半導(dǎo)體高低溫箱 芯片可靠性測試箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情
半導(dǎo)體高低溫箱，也稱為芯片可靠性測試箱或溫循試驗箱，是一種用于模擬溫度環(huán)境的精密測試設(shè)備。它專門設(shè)計用于對半導(dǎo)體芯片、集成電路（IC）、微電子模塊及其他電子元器件進行加速應(yīng)力篩選和可靠性評估，是確保電子產(chǎn)品質(zhì)量與壽命的關(guān)鍵工具。

用途
其主要目的是通過施加急劇的溫度變化，提前暴露產(chǎn)品在設(shè)計、材料和生產(chǎn)工藝中存在的潛在缺陷，如熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致的焊接點開裂、材料老化、接觸不良等故障，從而提升產(chǎn)品的出廠質(zhì)量和長期可靠性。

工作原理
該設(shè)備基于強制對流熱交換原理工作。核心系統(tǒng)包括壓縮機（制冷）、加熱器（制熱）、循環(huán)風(fēng)機和控制系統(tǒng)。測試樣品置于密閉的測試區(qū)內(nèi)，控制系統(tǒng)根據(jù)預(yù)設(shè)的溫度曲線，精確控制制冷單元和加熱單元的啟停，通過循環(huán)風(fēng)機將均勻的溫度氣流吹向樣品，實現(xiàn)快速、精確的升溫和降溫。

半導(dǎo)體高低溫箱 芯片可靠性測試箱

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍： 通常為 -70℃ 至 +150℃，更廣范圍可達 -80℃ 至 +220℃。

• 升溫/降溫速率： 常見為5℃/min至15℃/min，線性或非線性可控。

• 溫度波動度： ±0.5℃ 以內(nèi)。

• 溫度均勻度： ±2.0℃ 以內(nèi)。

• 內(nèi)箱尺寸： 根據(jù)需求定制，從幾十升到上千升不等。

加濕系統(tǒng)
部分型號配備加濕系統(tǒng)，用于進行恒溫恒濕或高低溫濕熱交變測試。通常采用鍋爐加濕或表面蒸發(fā)式加濕，能夠精確控制箱內(nèi)濕度，范圍一般為20%RH至98%RH，用于評估器件在潮濕環(huán)境下的性能及抗腐蝕能力。

產(chǎn)品特點

1. 高精度控制： 采用PID或FUZZY智能控制算法，確保溫度/濕度的精確和穩(wěn)定。

2. 快速溫變： 高效的制冷和加熱系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速的溫度轉(zhuǎn)換，提高測試效率。

3. 安全可靠： 具備多重安全保護（超溫、過流、缺相、風(fēng)機過熱等），并采用高強度、耐腐蝕的內(nèi)膽材料。

4. 用戶友好： 大屏幕觸摸屏人機界面，編程簡便，支持多段程序設(shè)定，并具備數(shù)據(jù)記錄和導(dǎo)出功能。

5. 耐用性強： 核心部件如壓縮機、控制器均采用國際品牌，確保設(shè)備長期穩(wěn)定運行。

滿足標準
該設(shè)備廣泛符合各類國際與國家測試標準，如：

• JESD22-A104（溫度循環(huán)）

• JESD22-A101（穩(wěn)態(tài)溫濕度壽命測試）

• MIL-STD-883

• GB/T 2423.1~4（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗）

• IEC 60068-2-1/-2